产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > 物理特性分析仪器 > 测厚仪 > A3-SR-100反射式膜厚测量仪

反射式膜厚测量仪

更新时间:2022-04-21

浏览次数:298

简要描述:

A3-SR-100 反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏 ITO 等镀膜厚度,PET 柔性 涂布的胶厚等厚度,LED 镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR-100 可用于测量 10 纳米到 100 微米的膜厚,测量精度达到 0.1 纳米。 在折射率未知的情况下,A3-SR-100 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外,A3-SR-100还可用于精确测量样品

品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,建材,电子,交通

A3-SR-100反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏 ITO 等镀膜厚度,PET 柔性 涂布的胶厚等厚度,LED 镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR-100 可用于测量 10 纳米到 100 微米的膜厚,测量精度达到 0.1 纳米。 在折射率未知的情况下,A3-SR-100 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外,A3-SR-100还可用于精确测量样品 的颜色和反射率。样品光斑在 1 毫米以内。

A3-SR-100反射式膜厚测量仪进行测量简单可靠,实际测量采样时间低于 1 秒。配合我们的 Apris SpectraSys 软 件进行手动测量,每次测量时间低于 1 秒。Apris SpectraSys 支持 20 层膜以内的模型并可对 多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时支持 函数型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光学(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型 (Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。 同时,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。

配手持式探头,A3-SR-100可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um, 只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um。


A3-SR-100系统参数:

1.产品尺寸: W270*D217*(H90+H140)mm  

2.测试方式:可见VIS 反射(R)          

3.波长范围:380nm - 1050 nm

4.光源: 进口 钨卤素灯 寿命10000小时  

5.光路和传感器:光纤式(FILBER,进口 )+进口光谱仪  

6.入射角:0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)

7.参考光样品: 硅片  

8.光斑大小:About 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)

9.样品大小:10 mm TO 300 mm (可以根据用户要求配置)

10.测试方式:反射

1644243132(1).png

1644243074(1).png











 





    没有相关产品信息...

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
苏州瑞格谱光电科技有限公司

苏州瑞格谱光电科技有限公司

地址:苏州工业园区唯华路5号君风生活广场17幢606室 邮箱:tclw512@163.com

© 2022 版权所有:苏州瑞格谱光电科技有限公司  备案号:苏ICP备20007395号-3  总访问量:11068  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

13862108604

15150181721